正达系列故障电路板检测仪:大于40管脚PLCC封装大规模LSI器件功能测试
【正达故障电路板检测仪系列论文】
大于40管脚PLCC封装大规模LSI器件功能测试
摘要:(【正达故障电路板检测仪系列论文】)大规模LSI器件是电路中功能复杂的高价值数字器件,必须采用专项技术进行测试。双列LSI器件管脚数多小于40管脚,方形PLCC封装LSI器件管脚数多大于40管脚。能否对PLCC封装LSI器件功能测试,考验着电路测试仪的技术水平。
关键词:PLCC封装;大规模LSI器件;功能测试
0.前言
旅游部门评定酒店。A城市评定方法:只对酒店做外观观察。若某酒店门窗破损外墙皮脱落,一定不是好酒店。若某酒店门窗完好外墙干净,应该是好酒店。通过改进观察技术,发现某酒店一块玻璃上存在一小块灰尘,或许不是好酒店。B城市评定方法:除了外观观察之外,一定要进入酒店内部。检查酒店的软硬件设施和服务运转情况。
A城市的评定方法简单便捷。有合理性,也有盲目性。就如同使用电路测试仪对器件进行VI曲线测试。B城市的评定方法科学准确,结论可靠。就如同使用电路测试仪对器件进行功能测试。
本文为:器件功能测试之——对大于40管脚PLCC封装大规模LSI器件功能测试。
1.关于大规模LSI器件功能测试
大规模集成电路简称:LSI.不同于28管脚以下中小规模数字器件,由于LSI器件功能复杂,应用多样,因此必须引入新的语言对其功能进行描述,这就是LSI程序语言。
每个LSI器件的功能往往都是由许多子功能组成的,如CPU器件有复位、DMA、中断、存贮器操作等,全部子测试就构成了对LSI器件的完全测试。
由于LSI程序语言过于复杂,所以不对用户开放自行扩充LSI器件库这项功能。不同厂家/相同功能LSI器件有些会存在一些个体差异,因此提供用户对LSI器件库进行更新/添加测试样本功能。可以对LSI器件测试程序做出有针对性的自动修正,以便对同一批LSI器件进行功能一致性的完全测试。
LSI器件库包括40管脚以下DIP(双列直插封装)和PLCC(方形表贴封装)器件(如8254/8254-PLCC等),以及40管脚以上PLCC封装器件(如8255-PLCC,CDP1854ACQ-PLCC等)。
能否对大规模LSI器件进行功能测试,考验着一款电路测试仪的技术水平。
2.DIP封装40管脚LSI器件在线功能测试
双列DIP封装40管脚LSI器件中,8255是非常典型的器件,使用量比较大。正达测试仪各种机型都可以对以8255为代表的DIP封装40管脚LSI器件进行在线功能测试。
以在线测试型号为8255的LSI器件为例:
①将40管脚DIP在线测试夹施加于被测器件上,测试夹和器件两者1管脚必须对齐。见图1.
②为电路板施加测试电源。
图1
③在测试软件中,器件选择:选择8255-DIP.工作模式:选择LSI在线功能测试。当前器件测试样本:选择NEC-D8255AC-2.应和电路板上被测器件保持一致。见图2.
图2
④开始在线功能测试。首先检测LSI器件8255的在线连接关系和电源施加情况。见图3.
图3
⑤继续对LSI器件8255按照26个应用单元进行在线功能测试。并给出详细测试报告。见图4.
图4
3.大于40管脚PLCC封装LSI器件离线功能测试
大多数方形PLCC封装LSI器件的管脚数大于40管脚,功能也更加复杂。正达测试仪可以对其进行离线/在线功能测试。可以根据用户实际使用情况编写LSI器件库,体现出很高的技术实力。
正达测试仪各个型号机型都具有方形PLCC封装LSI器件库。对于大于40管脚的方形PLCC封装LSI器件,必须由第三代ZD9610测试仪完成测试。
以离线测试型号为CDP1854ACQ的44管脚LSI器件为例:
①将CDP1854ACQ正向轻轻放置于离线测试板上的44管脚PLCC测试插座中。见图5.
图5
②将CDP1854ACQ压入测试插座中完成自动锁紧。见图6.
图6
③在测试软件中,器件选择:选择CDP1854-PLCC.工作模式:选择LSI离线功能测试。当前器件测试样本:选择CDP1854ACQ.应和被测器件保持一致。见图7.
对于相同型号/不同厂家的LSI器件,可以对LSI器件测试程序做出有针对性的自动修正。即:更新/添加测试样本项。
图7
④可在测试软件中查阅CDP1854ACQ器件逻辑功能图。见图8.
同时,依照测试软件中提示信息,通过离线测试板上的电源开关为CDP1854ACQ相应管脚施加电源和地。
图8
⑤开始离线功能测试。对LSI器件CDP1854ACQ按照6个应用单元进行功能测试。并给出详细测试报告。见图9.
图9
4.LSI器件在线状态测试/两板对照测试
LSI器件在线功能测试具有多种方式:
其1:例如之前介绍过的对双列直插式封装40管脚LSI器件在线功能测试。该功能同样适用于对方形PLCC封装LSI器件在线功能测试。
其2:事先学习好电路板上LSI器件的在线状态信息并存储记录。同故障电路板相同位置的LSI器件对比测试。即:LSI在线状态学习/LSI状态比较测试项。
其3:对于40管脚及以下(DIP封装或PLCC封装)LSI器件在线双板功能测试。同时直接对比两块电路板(通常为一好一坏电路板)上相同位置LSI器件的实际工作状态,测试在线连接关系和实际应用情况。即:LSI两板对照测试项。
对PLCC封装(尤其是对大于40管脚PLCC封装)LSI器件在线功能时,在线测试夹是难点。这是因为:
方形PLCC封装LSI器件上面的文字正向面对使用者时,文字上方那排管脚正中间位置的管脚为该LSI器件的第1管脚,管脚序号数逆时针增加。与DIP封装LSI器件有很大不同。
为此,正达对PLCC在线测试夹进行了改造,使其能够满足对各种PLCC封装LSI器件在线功能测试。
例如:满足于对之前介绍过的CDP1854ACQ器件在线功能测试的44管脚PLCC在线测试夹。见图10.
图10
5.结语
实现对大于40管脚方形PLCC封装大规模LSI器件功能测试,是以ZD9610为代表的第三代测试仪的特有功能。体现出强大的技术水平和实力。