※正达集成电路短路测试仪：集成电路短路/击穿测试

集成电路短路/击穿测试

[节选自2020版《ZD4040-N测试仪操作手册》第5章_短路/击穿测试项]

    测试IC管脚对地短路和相互间短路问题，除ZD4040-N测试仪能够对器件库中数字IC做自身连接测试外，对任何IC普遍适用的方法是：VI曲线交叉测试。（VI曲线交叉测试，国外产品称：VI曲线矩阵测试。）

    VI曲线交叉测试项有很多优势，但在用作处理IC管脚对地短路和相互间短路问题时，却存在测试过程耗时长，动辄提取上千条VI曲线。测试结果不量化，需要经过人为主观判断等明显缺点。

    ZD4040-N测试仪的集成电路短路/击穿测试项，可快速/直接/量化测试IC管脚之间的短路/击穿问题，对任何IC（数字/模拟/模数混合/各种封装形式等）都适用。尤其对IC管脚的软击穿问题，直接给出量化结果。同时支持通道测试，适合于电路板整板测试。

    测试方式：能够采用各种规格的IC测试夹、IC离线测试板/盒（IC插座）、测试排缆和自制测试信号线以及测试工装等。

测试实例1_集成电路短路/击穿测试：

    以对40管脚D8255AC接口IC短路/击穿测试为例。

    从测试仪接地端子（COM端）引线接到被测电路板地线上。采用40管脚DIP测试夹夹取器件。输入管脚数“40”，按“开始检测”按钮（图1）。

图1

    结果说明：D8255AC管脚7对地短路。这是正常的，管脚7是D8255AC的接地脚。管脚26/27之间≦1Ω，出现短路。这是严重故障，因为管脚26是D8255AC的电源管脚，不允许和管脚27短路。

    如果ZD4040-N测试仪对这个D8255AC采用VI曲线交叉测试，全数交叉测试提取40×40=1600条VI曲线。测试完毕，会显示40组/80屏（20线/屏）共计1600条VI曲线，分别是以管脚1,管脚2,管脚3,管脚4...管脚40作为测试参考点。查看VI曲线的工作量大，整个过程耗时长。测试结果不量化，主观判断因素多。和集成电路短路/击穿测试项相比，劣势明显。

测试实例2_测试通道短路/击穿测试：

    以对电路板上40个结点短路/击穿测试为例。

    采用40根自制测试信号线从测试仪电缆插座中引出。分布在电路板的40个结点上。不同于采用集成器件方式输入IC管脚数后，系统能够自动排序管脚号。当采用测试通道方式时，为方便使用者自行引线，规定：第1组测试插座左上1为1通道，左下1为2通道。左上2为3通道，左下2为4通道...以此类推。

    被测电路板应和测试仪共地。输入管脚数“40”，测试阈值从低到高逐级测试（图2）。

图2

    结果说明：电路板上这40个结点中，没有结点直接接地。没有结点相互短路。测试通道13/28/30指示的结点之间，存在≦10kΩ范围的软击穿特性。

总结：

    集成电路短路/击穿测试项，对任何IC都适用。相较于VI曲线交叉测试而言，测试速度快得多，几乎瞬时完成。测试结果明确量化，避免人为主观判断。还支持针对电路板上结点的通道测试，应用方式灵活多样。