正达原创TST方案

正达原创TST方案

    早期电路测试仪的测试频率很低，一般在50kHz以下，改变测试频率对数字器件功能测试结果不会产生任何影响。数字器件功能测试结果只存在两种状态：

    1.能够通过功能测试（器件基本功能正确）。

    2.不能通过功能测试（器件基本功能故障）。

    如果大幅度提高数字器件功能测试的测试频率，器件是否依然能够通过功能测试，输出正确的测试结果？

    第三代ZD9610测试仪将数字器件功能测试的测试频率大幅度提高到2000kHz.实测发现：虽然数字器件在《器件手册》中给出的工作频率多在几十MHz左右，但是绝大部分数字器件无法在  2000kHz测试频率时输出正确结果。只有降低测试频率，有些类型数字器件甚至要大幅度降低测试频率，才能够通过功能测试。

    这样就出现了第三状态（Third state）.第三状态是指：在某个特定测试频率之上，基本功能正确的器件却无法通过功能测试的状态。

    新型正达测试仪数字器件功能测试结果的三种状态：

    1.不能通过功能测试（在某测试频率之上/器件基本功能正确）。

    2.能够通过功能测试（在某测试频率之下/器件基本功能正确）。

    3.始终不能通过功能测试（所有测试频率/器件基本功能故障）。

    集成电路工作速度下降，是器件综合性能下降的集中体现。各种器件参数故障都会表现为集成电路工作速度下降。包括：器件单纯性的工作速度下降，器件其它参数故障引起的工作速度下降等。

    器件逻辑功能测试一般称为功能测试或者静态测试。对器件速度/时间特性测试一般称为性能测试或者动态测试。第三状态就属于后者这个范畴。

    第三状态的验证表明：器件对高频测试信号的正确响应能力与自身工作频率相对应。即：器件工作频率越高，速度越快，所能通过功能测试的测试频率也越高。因此，第三状态的出现能够反映出器件的实际工作速度情况。相同功能型号的器件，如果能够通过功能测试的测试频率越高，则其速度越快，其性能越好。反之，能够通过功能测试的测试频率越低，则其速度越慢，其性能也就越差。

    基于第三状态的特点，现已形成独立的测试形式。英文简称：TST（Third State Test）.成为简单有效的疑难故障解决方案。

    应用第三状态TST方案，能够测试器件对高频测试信号的正确响应能力，测试器件动态性能。区分器件工作速度，区分器件动态性能差异。

   详见：本产品功能简介。