PLD可编程逻辑器件功能测试

PLD可编程逻辑器件功能/状态测试

    测试对象包括通用阵列GAL和可擦除/编程EPLD等器件，如低密度的16V8和高密度的22V10等PLD器件。含盖NS,Lattice,AMD等著名厂家的产品，完成程序读取、复制、清除、校验、加密、全自动操作以及空白检查等操作，判断PLD器件工作状态和故障，是一项精密的测试功能。

    同类测试仪中只有正达测试仪能够完成PLD器件测试。PLD器件是上世纪80年代以后迅速发展起来的新型数字IC，是重要的一类数字器件，特点是可通过编程的方法设置其逻辑功能。掌握PLD器件的测试驱动程序，要求测试仪厂家必须具备很高的技术水平。

    详见：本产品功能简介。